SiO2Etching6
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[[SiO2Etch]]
*結論
**5.1 本研究の結論
半導体素子製造の発展を牽引してきた微細加工技術の重要な...
半導体素子のなかで絶縁膜として使われるシリコン酸化膜の...
本研究では,所望のエッチング特性(形状や加工速度など)...
***(1) CFx ラジカルと表面の相互作用(第3章)
エッチング中のa-C:F 膜の堆積過程で堆積レートを左右する...
プラズマ密度ne が低密度(ne < 1011 cm−3)の場合は,これ...
***(2) CFx+ イオンと表面の相互作用(第3章)
プラズマエッチングの垂直加工性がイオンによる反応によっ...
これまで得られた知見は重要であるが,以下の点で不備であ...
そこで,筆者はCFx+ の化学組成を質量分離によって変えられ...
***(3) エッチング中表面のその場観察(第4章)
本研究で対象とするフルオロカーボンプラズマによるシリコ...
このエッチング中のa-C:F 膜の堆積過程は,時間分解能2s 以...
***(4) 真空搬送電子スピン共鳴法による観察(第4章)
さらに,本研究では表面反応の詳細を調べるために,化学結...
この真空保持状態で搬送してESR 測定して新たに分ったこと...
以上のように.絶縁膜としてのシリコン酸化膜のフルオロカ...
**5.2 今後の課題と展望
本研究の成果を踏まえて,次のような課題が挙げられる.
***(1) エッチング中のその場観察の時間分解能
エッチング中の表面を赤外分光法を用いて“その場で”観察し...
***(2) 形状発展シミュレータへの組み込み
次に,フルオロカーボンラジカルやイオンといった個々の化...
***(3) 表面反応の素過程の理解
ここで,表面反応モデルを入射種と表面状態から脱離種など...
して全体の表面反応モデルを構築することが重要だろう.
***(4) 真空搬送電子スピン共鳴法によるその場観察
表面ダングリングボンドの“その場で”観察する点については...
最後となるが,今後もさらなる現象の理解を進め,所望のエ...
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[[SiO2Etch]]
*結論
**5.1 本研究の結論
半導体素子製造の発展を牽引してきた微細加工技術の重要な...
半導体素子のなかで絶縁膜として使われるシリコン酸化膜の...
本研究では,所望のエッチング特性(形状や加工速度など)...
***(1) CFx ラジカルと表面の相互作用(第3章)
エッチング中のa-C:F 膜の堆積過程で堆積レートを左右する...
プラズマ密度ne が低密度(ne < 1011 cm−3)の場合は,これ...
***(2) CFx+ イオンと表面の相互作用(第3章)
プラズマエッチングの垂直加工性がイオンによる反応によっ...
これまで得られた知見は重要であるが,以下の点で不備であ...
そこで,筆者はCFx+ の化学組成を質量分離によって変えられ...
***(3) エッチング中表面のその場観察(第4章)
本研究で対象とするフルオロカーボンプラズマによるシリコ...
このエッチング中のa-C:F 膜の堆積過程は,時間分解能2s 以...
***(4) 真空搬送電子スピン共鳴法による観察(第4章)
さらに,本研究では表面反応の詳細を調べるために,化学結...
この真空保持状態で搬送してESR 測定して新たに分ったこと...
以上のように.絶縁膜としてのシリコン酸化膜のフルオロカ...
**5.2 今後の課題と展望
本研究の成果を踏まえて,次のような課題が挙げられる.
***(1) エッチング中のその場観察の時間分解能
エッチング中の表面を赤外分光法を用いて“その場で”観察し...
***(2) 形状発展シミュレータへの組み込み
次に,フルオロカーボンラジカルやイオンといった個々の化...
***(3) 表面反応の素過程の理解
ここで,表面反応モデルを入射種と表面状態から脱離種など...
して全体の表面反応モデルを構築することが重要だろう.
***(4) 真空搬送電子スピン共鳴法によるその場観察
表面ダングリングボンドの“その場で”観察する点については...
最後となるが,今後もさらなる現象の理解を進め,所望のエ...
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